XRD LABORATUVARI

X-IŞINI DİFRAKTOMETRE; XRD (X-RAY DIFFRACTOMETER) 

Marka: PANalytical

Model: EMPYREAN XRD

X-Işını Kırınım ölçümü ile (XRD), her bir kristalin fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristalin fazı için bu kırınım desenleri bir nevi parmak izi gibi o kristali tanımlar. X-Işını Kırınım analiz yöntemi, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar. X-Işını Kırınım cihazıyla kayaçların, kristal malzemelerin, ince filmlerin ve nitel ve nicel incelemeleri yapılabilir. Cihaza ait teknik özellikler aşağıda verilmiştir;

• X-Işını Tüpü: Cu-Ka.

• Çalışma Voltaj Aralığı: 20-50 kV.

• Çalışma Akım Aralığı: 5-60 mA.

• Gonyometre çapı 480 mm. Dikey gonyometre, teta-teta ve alfa-1 geometrilerinde.

• En küçük adım büyüklüğü 0.00010 (θ/2θ).

• XRD cihazı yüksek çözünürlükte tarama yapabilecek ve gonyometre tarama hızı 0.0001°/dak ve 70°/dak. Bir açıdan diğer açıya geçiş hızı 500°/dak.

• Maksimum kullanılabilir ölçüm açıları: -111< 2 θ <168 derece.

• Piksel tabanlı hızlı dedektör; dijital mikro işlemci kontrollü uzun ömürlü ve maksimum sayım kapasitesi 1x10 6 sinyal/sn, minimum piksel alanı 70 mikron x 70 mikron, yatayda en az 4° (2θ) açısal alanda sabit (snap shot) modunda hiç hareket etmeden ölçüm yapabilme.

• 2D haritalama.

• Bragg-Brentano optik modülü.

• Cross Slit Collimator.

 

CİHAZ SORUMLULARI:

Fizikçi Afet Rüya KANDEMİR

İletişim:

Telefon: (0322) 338 60 84(60)

Dahili: 4615-223

-

Fizikçi Derya AKALAN

İletişim:

Telefon: (0322) 338 60 84(60)

Dahili: 4615-218