AFM

AFM LABORATUVARI

ATOMIC FORCE MICROSCOPE (ATOMİK KUVVET MİKROSKOBU)   

          quanta feı 650 ile ilgili görsel sonucu

Marka: Park Systems

Model: Park NX10

 

AFM yüzey topografisini angtrom seviyesinden 100 microna kadar ölçebilen bir metoddur.  Çok duyarlı cantilever yüzeyi taramasıyla Atomik seviyedeki kuvvetleri (nN) ölçebilir.

Kullanıldığı Endüstriler:

Elektronik,Telekominikasyon, Biyoloji, Kimya, Otomotiv, Uzay-Havacılık, ve Enerji 

Malzemeler:

İnce ve kalın kaplamalarda, seramikler, kompozitler, camlar, sentetik ve biyolojik membranlar, metaller, polimerler ve yarıiletkenler.

Ölçülebilecek özellikler:

Yüzey etkileşim özellikleri, elektriksel yük, manyetiklik hidrofilik özellikler

Nanomekanik özellikler;

Aşınma, adhezyon- kapiler davranış, temizleme,  korozyon,  pürüzlendirme, sürtünme, kayganlaştırma, kaplama ve cilalama.

Uygulama Alanları:

Su ve çevre analizleri, Jeokimyasal analizler, Gıda analizleri, Metalürjik analizler

 

CİHAZ SORUMLULARI:

Öğr. Gör. Uğur ÇALYAN

İletişim:

Telefon: (0322) 338 60 84(60)

Dahili: 4615-216

_____________________________________

Fizikçi Derya AKALAN

İletişim:

Telefon: (0322) 338 60 84(60)

Dahili: 4615-218